在新材料研發、半導體製造、醫藥化工、地質礦產等眾多領域，物相鑒定、晶體結構解析、薄膜性能表征是把控產品質量、推動技術突破的核心環節。作為材料表征領域的主流精密設備，X 射線衍射儀憑借非破壞性、高精度的檢測特性，已成為各大實驗室與工業產線質檢環節不可少的核心分析工具。
一、什麽是 X 射線衍射儀？
X 射線衍射儀（簡稱 XRD）是利用 X 射線在晶體材料中產生的衍射效應，采集樣品的衍射圖譜，進而解析材料物相組成、晶體結構、晶粒尺寸、殘餘應力等微觀信息的精密分析儀器。其核心原理基於布拉格衍射定律：當 X 射線照射到晶體樣品時，不同晶麵會在特定角度產生衍射信號，通過係統采集、解析這些信號，即可反推材料的微觀結構與物相特征。
從常規粉末樣品的定性定量分析，到薄膜、塊體、纖維等特殊樣品的深度表征，再到原位環境下的動態過程監測，X 射線衍射儀的應用場景已覆蓋科研院所、高校實驗室、新能源、半導體、冶金、製藥等多個行業，是材料科學研究與工業質量控製的核心支撐設備。
二、蘑菇视频黄色网站儀器攜手布魯克，打造高端 XRD 解決方案
作為專業的實驗室分析儀器服務商，蘑菇视频黄色网站儀器（上海）有限公司深耕精密檢測設備領域，代理推出德國布魯克 AXS 公司全新 D8 ADVANCE 達芬奇 X 射線衍射儀，以創新的光路設計、極致的檢測精度與全麵的分析能力，為國內用戶提供高效、可靠的材料分析整體解決方案。
這款 D8 ADVANCE X 射線衍射儀搭載多項布魯克zhuan利技術，突破了傳統 XRD 設備光路切換繁瑣、應用場景受限、檢測效率偏低的痛點，兼顧粉末衍射、薄膜分析、微區表征等多元需求，是適配多行業、全類型樣品的高端分析平台。
三、四大核心技術優勢，重新定義 XRD 使用體驗
1. 雙光路全自動切換，多場景應用無需人工對光
D8 ADVANCE 采用布魯克專屬發明的 TWIN-TWIN 光路設計，可在 Bragg-Brentano 聚焦幾何與平行光幾何之間全自動切換，全程無需人工對光調試。聚焦幾何模式適配粉末樣品的高精度定性定量分析，平行光模式則支持不良形狀樣品、塗層與薄膜的掠入射 GID、反射率 XRR 分析。
設備同時搭載 TWISTTUBE 技術，用戶僅需 1 分鍾即可完成線光源到點光源應用的切換，輕鬆覆蓋常規粉末分析、薄膜表征、織構、應力、微區分析等多元場景，徹底告別光路互換、重複對光的繁瑣操作，大幅提升設備使用效率。
2. 高精度測角儀，保障全譜數據可靠性
設備搭載 Theta/theta 立式測角儀，2Theta 角度覆蓋 - 110° 至 168° 寬範圍，角度精度可達 0.0001 度。布魯克 AXS 可保證全譜範圍內每一個衍射峰的測量峰位與標準峰位誤差不超過 0.01 度，為物相精準鑒定、點陣參數精確測量、晶體結構精修等高精度分析需求提供穩定可靠的數據基礎。
3. 旗艦級陣列探測器，效率與靈敏度雙重提升
設備配備 LYNXEYE 係列陣列探測器，可大幅提升檢測信號強度，顯著提高設備使用效率與探測靈敏度。其中旗艦款 LYNXEYE XE-T 能量色散探測器，支持采集 0D、1D 和 2D 數據，適配從 Cr 到 Ag 的所有波長，能量分辨率優於 380 eV。
該探測器可在零強度損失下實現鐵熒光的高效過濾，無需加裝金屬濾波片與二級單色器，避免數據出現殘餘 Kβ、吸收邊等偽影，同時兼具高計數率與優異的角分辨率，是各類 X 射線衍射與散射應用的高適配性檢測方案。
4. 動態光束優化，全角度數據質量均一穩定
布魯克獨有的動態光束優化（DBO）功能，通過馬達驅動發散狹縫、防散射屏與可變探測器窗口的自動同步，尤其在低 2θ 角度區間可提供出眾的數據質量。該功能全係列適配 LYNXEYE 探測器，為低角度介孔材料測量、小角散射等特殊應用提供穩定的檢測表現。
四、覆蓋 15 + 分析場景，適配全類型樣品
依托 DIFFRAC.SUITE 與 TOPAS 軟件平台，D8 ADVANCE 可實現多維度的材料分析能力，核心應用包括：
- 常規粉末分析：物相定性 / 定量分析、結晶度及非晶相含量測定、無標樣定量、結構精修與解析、點陣參數精確測量、微觀應變與晶粒尺寸分析
- 高級結構分析：織構及 ODF 分析、殘餘應力檢測、對分布函數（PDF）分析、小角散射、原位動態過程分析
- 薄膜與塗層分析：掠入射衍射、X 射線反射法、蘑菇视频在线观看版免费率 X 射線衍射、倒易空間掃描，支持納米級至微米級厚度薄膜的相鑒定、厚度測定、應變與組分分析
無論是粉末、塊狀、纖維、片材等常規樣品，還是非晶、多晶、外延薄膜等特殊樣品，D8 ADVANCE 均可提供高質量的分析結果，適配材料科學、化學、物理、地質、醫藥、半導體等多領域的研究與檢測需求。
五、選擇蘑菇视频黄色网站儀器，享受專業全流程服務
蘑菇视频黄色网站儀器（上海）有限公司作為布魯克 AXS 相關產品的授權代理商，不僅為用戶提供原廠正品的 D8 ADVANCE X 射線衍射儀，更配套專業的技術支持與售後服務，從設備選型、安裝調試到操作培訓、後期維護，全程為用戶的檢測工作保駕護航，助力科研機構與企業用戶提升分析效率，加速技術研發與產品升級。
常見問題解答
Q1：布魯克 D8 ADVANCE X 射線衍射儀主要適用於哪些行業與樣品類型？
A：該設備廣泛適用於高校、科研院所、新能源、半導體、冶金、地質、醫藥化工等行業，可檢測粉末、塊狀、纖維、片材、薄膜（非晶、多晶、外延）等幾乎所有類型的固體樣品。
Q2：切換不同的檢測應用時，需要人工調試光路嗎？
A：不需要。設備搭載 TWIN-TWIN 光路係統，可在聚焦幾何與平行光幾何之間全自動切換，無需人工對光；搭配 TWISTTUBE 技術，線光源與點光源應用的切換僅需 1 分鍾，大幅降低操作門檻與時間成本。
Q3：LYNXEYE XE-T 探測器相比傳統探測器有什麽優勢？
A：LYNXEYE XE-T 是能量色散型陣列探測器，兼具 0D、1D、2D 數據采集能力，適配多種靶材波長；能量分辨率優異，可無損失過濾熒光信號，無需額外濾波片或單色器，避免數據偽影，同時擁有高計數率與出色的角分辨率，檢測效率與靈敏度均有顯著提升。
Q4：設備可以進行原位分析嗎？
A：支持。D8 ADVANCE 可搭配對應原位附件，實現不同環境條件下的動態過程監測，滿足材料相變、反應過程等動態研究需求。
更新時間：2026-07-09
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