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技術文章_第(3)頁-蘑菇视频黄色网站儀器(上海)有限公司

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  • 20253-17
    根據微區分析能力和數據處理方式,二次離子質譜儀可分為哪幾種類型?

    根據微區分析能力和數據處理方式的不同,二次離子質譜儀可分為以下幾種類型:1、非成像型離子探針特點:主要用於對側向均勻分布樣品的縱向剖析或對樣品最外表麵層進行特殊研究。應用場景:適用於對樣品特定區域的元素組成和結構進行分析,例如對材料某一深度處的元素分布情況進行檢測。2、掃描成像型離子探針特點:利用束斑直徑小於10μm的一次離子束在樣品表麵作電視形式的光柵掃描,實現成像和元素分析。應用場景:能夠獲取樣品表麵的元素分布圖像,對於研究樣品表麵元素的均勻性和分布規律具有重要意義,常用...

  • 20253-14
    養護傅裏葉變換核磁共振是一件很重要的事情

    傅裏葉變換核磁共振(NMR)儀是一種精密的科學儀器,廣泛用於化學、生物醫學和材料科學等領域。為了確保其長期穩定性和準確性,必須進行細致的養護。以下是傅裏葉變換核磁共振儀的養護細節:一、環境控製1.溫度與濕度傅裏葉變換核磁共振儀應安裝在溫度穩定的環境中,理想溫度範圍為18-25℃。避免儀器暴露在溫度劇烈變化的環境中,以防止內部元件受損。濕度控製在40%-60%為宜。過高的濕度可能導致電子元件受潮短路,而過低的濕度可能引發靜電幹擾。2.無塵環境NMR儀應放置在無塵環境中,避免灰塵...

  • 20253-5
    對於複雜地質樣品,多晶蘑菇色视频衍射儀然後進行有效的分離和鑒定?

    對於複雜地質樣品,電子多晶蘑菇色视频衍射儀(XRD)是一種非常有效的分離和鑒定工具。以下是使用XRD對複雜地質樣品進行有效分離和鑒定的一般步驟:一、樣品準備1、粉碎與研磨首先將複雜地質樣品粉碎成細顆粒,通常需要使用研缽和研杵,或者球磨機等設備。粉碎後的顆粒尺寸應符合XRD分析的要求,一般在微米級別,這樣能保證樣品具有足夠的表麵積,使蘑菇色视频能夠充分照射到晶體的各個麵,獲得準確的衍射信息。2、篩分與提純(可選)根據樣品的性質和研究目的,可能需要進行篩分以分離出特定粒徑範圍的顆粒。如果...

  • 20253-4
    BiasMDP 技術搭配MDPmap設備,開啟表麵鈍化檢測新方式

    BiasMDP技術搭配MDPmap設備,開啟表麵鈍化檢測新方式在能源產業蓬勃發展的當下,追求更高效率的太陽能電池成為行業核心目標。而這其中,表麵鈍化技術的優劣起著決定性作用。要深入理解和優化表麵鈍化,精準測量固定電荷和界麵缺陷密度這兩個關鍵參數至關重要。為大家介紹一項行業變革的創新技術——基於微波探測光電導衰減法(MDP)的BiasMDP技術,這一技術在實驗測量環節,FreibergInstruments公司的MDPmap型號設備發揮了重要作用。在BiasMDP技術出現之前,...

  • 20253-4
    MDP 技術-矽錠質量評估的 “透視眼”

    MDP技術-矽錠質量評估的“透視眼”在光伏生產鏈中,矽錠材料質量評估對晶體生長者優化結晶過程、電池、芯片製造商篩選材料以降本增效極為重要。傳統依賴最終效率的反饋方式存在諸多不足,MDP技術則為早期質量評估提供了新途徑。FreibergInstruments相關技術或設備助力實現用MDP技術在矽磚四個側麵以1mm分辨率測量空間壽命和電阻率圖像。這種測量具有非接觸、可在線操作且無需校準的優勢。MDP技術能夠對晶錠的空間分辨載流子壽命和電阻率進行測量,其測量過程為非接觸式,可在生產...

  • 20252-26
    應用分享 | SkyScan2214助力揭秘甲磺酸多沙唑嗪緩釋片釋放機製(XRM)

    由來自國家食品藥品監督管理局相關重點實驗室、中國藥科大學、中國科學院上海藥物研究所等機構的眾多科研人員組成的團隊,結合體外溶出實驗與三維蘑菇色视频斷層掃描結構表征的研究方法,開展了甲磺酸多沙唑嗪緩釋片相關研究。文章中,研究人員運用Bruker納米級三維蘑菇色视频顯微鏡(NanoCT)SkyScan2214剖析了藥物結構與釋放動力學關係,為口服控釋仿製藥研發和質量控製提供了重要依據。該文章於2024年9月21日成功發表於AsianJournalofPharmaceuticalScien...

  • 20252-26
    應用分享 | 評估紫光受激發光方案的測年潛力(Lexsyg釋光探測器)

    lexsyg釋光探測器||在地質測年領域應用分享突破測年極限!紫光激發發光技術新進展,lexsyg係統助力古老沉積物測年研究這篇由牛津大學與伍倫貢大學聯合團隊發表的研究,為石英測年技術帶來了重要突破。團隊使用德國FreibergInstruments的lexsygresearchsystem高精度發光測量係統,對紫色受激發光(VSL)測年法展開係統性驗證,揭示了該技術在突破傳統測年上限中的潛力與挑戰。創新實驗設計研究選取歐洲4處考古遺址樣本(年代跨度40-900ka),通過對...

  • 20252-19
    應用分享|深能級缺陷表征- MDPICTS

    在半導體材料的研究與應用中,缺陷表征至關重要。特別是在中子嬗變摻雜(NTD)矽的處理過程中,了解其輻射誘導缺陷對於優化退火條件、提升材料性能意義非凡。FreibergInstruments公司的微波探測光致電流瞬態光譜法(MDPICTS)技術(如圖1),為這一領域帶來了新的突破,展現出諸多傳統技術難以企及的優點。NTD矽,因能實現極低的電阻率變化,在大麵積輻射探測器製造中占據重要地位。然而,摻雜後的矽晶體因輻射產生大量缺陷,實際電阻率遠超預期,退火成為必要環節。在此過程中,準...

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