晶錠自動化單晶定向係統重塑晶錠研磨前處理工藝：自動化、高精度、高效率。可使現有設備滿足 200 毫米及 300 毫米規格晶錠的高級外徑 / 缺口技術標準 。

Ingot XRD 300 OD/Notch

晶錠自動化單晶定向係統

Enables existing equipment to reach high-end OD/Notch specs for 200 mm and 300 mm ingots

可使現有設備滿足 200 毫米及 300 毫米規格晶錠的高級外徑 / 缺口技術標準      

Rethink your ingot grinding preparation: automated, precise, fast.

重塑晶錠研磨前處理工藝：自動化、高精度、高效率

Features & Benefits:   

-- Highest precision with high-speed measurement: < 5 secs/sample

    高精度 + 高速檢測：單樣品檢測耗時＜5 秒

-- Typical standard deviation tilt (example: Si 100): < 0.003 °, minimum < 0.001 °

    典型傾斜標準偏差（示例：矽 晶麵）：＜0.003°，最小值＜0.001°

-- Automatic ingot alignment

    晶錠自動對準

-- Automatic positioning of glue pieces

    實現膠塊自動定位

-- Optical determination of geometric features (flat/notch position) of raw and/or grinded ingots

    未加工及 / 或已研磨晶錠幾何特征（平邊 / 缺口位置）的光學測定

-- Automatic marking of ingots

    晶錠自動打標

-- Easy integration into process line (manual or robotic loading)

    易於集成至產線（支持人工或機器人上料）

-- Data Matrix Code (DMC) reader

    數據矩陣碼（DMC）讀取器

-- MES interface; SECS/GEM or similar

    製造執行係統接口；支持 SECS/GEM 或同類通信協議

-- up to 300 mm diamter and up to 520 mm lenght ingots

    Z大直徑可達 300 毫米、Z大長度可達 520 毫米的晶錠

Advantages of the Omega-Scan Method

Omega-Scan 方法重要優勢 （Freiberg Instruments 重要技術）：

---Stable and Simplified Setup

The X-ray tube and detector remain fixed, requiring only a single measuring circle and no monochromator.

穩定便捷的安裝調試

X 射線管與探測器固定不動，隻需單次測量周期，且無需單色儀。

---Comprehensive Data Collection

All necessary data for full orientation determination is captured in just one rotation.

全方麵數據采集

單次旋轉即可采集全定向測定所需全部數據。

--High Precision with Minimal Measurement Time

The method delivers exceptional accuracy within a short measurement duration.

高精度・測量耗時短

短時間內即可實現優異精度。

These features make the Omega-Scan method particularly well-suited for routine measurements and industrial applications, where speed and reliability are essential.

憑借這些特性，Omega-Scan 方法尤為適配常規測量與工業應用場景 —— 這類場景對速度與可靠性有著重要要求。

Understanding the Omega-Scan Method

晶錠自動化單晶定向係統解讀 Omega-Scan 方法

The Omega-Scan technique involves rotating the specimen 360° around a specific axis, such as the surface normal. The X-ray source and detector are positioned based on the crystal type to ensure an optimal number of reflections per turn. By analyzing the angular positions of these reflections, the crystal lattice orientation is determined in relation to the rotation axis.

Omega-Scan 技術的工作原理為：將試樣繞某一特定軸（如表麵法線）完成 360° 旋轉，X 射線源與探測器則根據晶體類型進行定位，以確保每圈旋轉均可獲得優異的反射次數。通過分析這些反射信號的角度位置，即可確定晶格取向相對於旋轉軸的具體方位。

To precisely align the lattice orientation with the crystal surface, a laser beam checks the surface direction. Other relevant reference planes or directions can also be measured using optical tools. This technique enables accurate orientation measurement of single crystals in any configuration, achieving a reproducibility within a few arc seconds—often in just a few seconds of measurement.

為精確校準晶格取向與晶體表麵的對位關係，激光束會對晶體表麵方向進行檢測。其餘相關參考平麵或方向，亦可通過光學工具完成測量。

該技術可實現對任意形態單晶的高精度取向測量，重複性精度控製在數角秒範圍內 —— 且單次測量耗時通常隻需數秒。

A specialized application of the Omega-Scan method is precision lattice-parameter determination, particularly for cubic crystals, providing highly accurate structural insights.

Omega-Scan 方法的一項專業應用方向為高精度晶格參數測定，該應用尤其適用於立方晶體，可提供高精度的晶體結構解析能力。

User-Friendly and Advanced Operating Software

人性化操作軟件

多種操作模式

操作員模式：采用固定測量參數設計，保障操作流程安全高效。

管理員模式：支持測量配方的創建與修改，可針對新型材料調整參數。

直觀引導式操作界麵

確保不同經驗水平的用戶，均可享受到流暢高效的操作流程。

預設配方與自定義配方雙模式

既可從豐富的現成配方中直接選用，也可根據特定需求創建專屬配方。

測量結果與修正值自動顯示

可即時查看測量結果，同步自動生成修正值，助力晶格取向精確調校。

圖譜分析功能

搭載圖譜分析功能，賦能高精度測量分析工作。

數據導入導出功能

可輕鬆完成數據導入導出，便於數據共享及與其他係統的集成對接。